专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]标定驱动下单比特门保真度的方法-CN202210335995.1在审
  • 程万青;李泽东 - 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
  • 2022-03-31 - 2023-10-24 - G06N10/40
  • 本发明提供了一种标定驱动下单比特门保真度的方法,包括:提供一量子芯片,所述量子芯片上设置有第一量子比特以及第二量子比特;对所述第一量子比特施加一驱动信号,对所述第二量子比特施加一操作序列并获取所述操作序列的保真度,其中,所述操作序列包括m个单比特Clifford门,所述单比特Clifford门包括若干个单比特门;基于所述操作序列的保真度与m的关系获取所述第二量子比特在受到来自所述第一量子比特的驱动时执行单比特门的保真度本申请的技术方案能够标定量子芯片上一个量子比特在受到来自其他量子比特驱动时执行单比特门的保真度。
  • 标定驱动串扰下单比特保真度方法
  • [发明专利]立体声信号的空间处理方法、系统及存储介质-CN201980064060.0有效
  • 扎卡里·塞尔迪斯 - 云加速360公司
  • 2019-07-31 - 2023-03-28 - H04S1/00
  • 音频系统提供对音频信号的处理和补偿处理。处理可以包括消除处理或模拟处理。通过对左通道和右通道的边侧通道应用处理来生成串处理的信号,其中左通道和右通道的中间通道绕过处理。处理的信号和绕过处理的中间通道用于生成左输出通道和右输出通道。在一些实施方式中,通过对边侧通道应用补偿处理来生成串补偿的信号。补偿的信号对由处理引起的频谱缺陷进行调整。处理和补偿处理可以以不同的顺序应用。使用处理的信号和补偿的信号来生成左输出通道和右输出通道。
  • 立体声信号空间处理方法系统存储介质
  • [发明专利]一种SQUID测试组件的标定、消除方法及系统-CN202110540178.5有效
  • 伍俊;荣亮亮;邱隆清;董慧;谢晓明 - 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 2021-05-18 - 2022-06-21 - G01R33/035
  • 本发明提供一种SQUID测试组件的标定、消除方法及系统,包括:模拟与实际被测磁场强度相等或相同量级的正弦磁场;在多通道SQUID测量模块中被通道及通道均正常工作的情况下,测量被通道及通道的输出信号;在被通道正常工作、通道关闭的情况下,测量被通道的输出信号;基于被通道在有无两种情况下的输出信号变化值及通道的输出信号,计算被通道与通道之间的系数;重复上述步骤依次计算多通道SQUID测量模块中各通道之间的系数,并获取多通道SQUID测量模块的通道系数矩阵。本发明不仅能提高标定的精度、简化的测量步骤,而且能整体对SQUID测量系统的进行精确标定和消除。
  • 一种squid测试组件标定消除方法系统
  • [发明专利]一种获取信息的方法及装置-CN200610058355.1有效
  • 石清泉 - 华为技术有限公司
  • 2006-03-03 - 2007-09-05 - H04M3/30
  • 本发明公开了一种获取信息的方法,该方法包括:获取源的发送功率变化量及目标的噪声功率,并根据获得的源的发送功率变化量及目标的噪声功率,获取动态特性发生变化的频率点上的系数,作为信息同时,本发明还公开了一种获取信息的装置,包括系数获取模块,用于获取动态特性发生变化的频率点上的系数。通过本发明获得了线路中的信息,而且保证了获得的信息接近真实信息。
  • 一种获取信息方法装置
  • [发明专利]激光雷达点云处理方法、装置、电子设备和介质-CN202210943937.7有效
  • 刘楠楠;沈罗丰;郑睿童 - 探维科技(北京)有限公司
  • 2022-08-08 - 2022-11-08 - G01S7/48
  • 本公开涉及一种激光雷达点云处理方法、装置、电子设备和介质;其中,该方法包括:获取目标激光雷达的点云数据和目标激光雷达的目标脉宽值;基于脉宽值、距离值、间隔角度值以及目标脉宽值,确定候选点集合,其中,候选点集合包括:多个候选点;基于候选点集合中的候选点的距离均值、候选点的脉宽均值、间隔角度值、每个候选点对应的脉宽值以及每个候选点对应的距离值,确定目标点集合,其中,目标点集合包括:多个目标点;从点云数据中剔除目标点集合中包含的每个目标点对应的数据,得到目标点云数据。本公开实施例能够对进行滤除,还原物体的真实点云,提高整体点云的准确度。
  • 激光雷达串扰点云处理方法装置电子设备介质
  • [发明专利]屏体画面测试方法和装置、存储介质-CN201910753110.8有效
  • 董栓柱 - 昆山国显光电有限公司
  • 2019-08-15 - 2020-09-22 - H04N17/00
  • 本发明公开一种屏体画面测试方法和装置、存储介质。该方法包括:主屏及副屏显示不同的灰阶画面时,确定主屏对副屏的画面标准参量值及副屏对主屏的画面标准参量值,确定主屏对副屏的画面实际参量值及副屏对主屏的画面实际参量值;根据主屏对副屏的画面标准参量值以及主屏对副屏的画面实际参量值,计算主屏对副屏的画面度,并根据副屏对主屏的画面标准参量值以及副屏对主屏的画面实际参量值,计算副屏对主屏的画面度。其中,主屏对副屏的画面度以及副屏对主屏的画面度用于确定主屏与副屏之间的画面影响。本发明实施例能够适用于异形屏的画面测试,提高异形屏的画面测试准确度。
  • 画面测试方法装置存储介质
  • [发明专利]考虑效应的静态时序分析方法-CN201610382152.1有效
  • 王健;张军;来金梅 - 复旦大学
  • 2016-06-02 - 2019-05-31 - G06F17/50
  • 本发明属于集成电路技术领域,具体为考虑效应的静态时序分析方法。本发明提出了一种基于查表模型的建模方式和对应的分析算法。首先由版图提取出线电路,然后提取出寄生参数,再采用批处理仿真方式进行精确仿真,进而得到延时库。之后采用分析算法,分为情况分析算法和延时计算算法。前者用来分析电路的情况,如受害线与攻击线数目,受害线延时值等信息,后者用来计算电路精确的延时,通过跳变时间差及负载计算法,加之多攻击线的处理算法,最终基于延时库,通过查表法,线性插值法以求取精确的延时值
  • 考虑效应静态时序分析方法
  • [发明专利]外来测试信号单元的互连和控制-CN200610109234.5无效
  • 哈什昂·潘迪瓦;祝幸 - 安捷伦科技有限公司
  • 2006-08-03 - 2007-02-28 - H04B3/46
  • 本发明公开了外来测试系统的互连和控制。外来测试系统使用多个外来测试信号单元、外来测量单元和互连基本单元。每个外来测试信号单元与不同的干扰线缆进行电通信,以参与其上的RF测试信号的传送。外来测量单元与受害线缆进行电通信,以对响应于在受害线缆和一个或多个干扰线缆之间的任何外来耦合而在受害线缆上生成的外来信号进行测量。互连基本单元与外来测量单元和多个外来测试信号单元进行电通信,以按照外来测量单元的命令控制多个外来测试信号单元进行的干扰线缆上的相同频率的RF测试信号的非同时传送。
  • 外来测试信号单元互连控制
  • [发明专利]一种产生测量左右眼值信号的方法-CN201110308179.3有效
  • 徐康兴;柳玉华;武晓光 - 北京牡丹视源电子有限责任公司
  • 2011-10-12 - 2013-04-17 - H04N17/00
  • 本发明的产生测量左右眼值信号的方法步骤如下:首先,选定至少两个亮度值,排布至少两个亮度值,形成具有背景亮度以及明暗条纹的源信号。然后,依据源信号生成受信号:选定源信号的背景亮度的亮度值作为受信号的背景亮度;选定至少一个值,根据值计算受信号明暗条纹的亮度值。采用本发明技术方案产生的信号来测量左右眼值,不需要利用亮度计等辅助工具,实现了直读式测量,同时还可降低对测量环境的要求,不需要在暗室环境下才能完成串值测量。本发明就为值测量提供了技术基础,简化了测试操作过程,无需大量的复杂计算,即可直观快捷地读取值。
  • 一种产生测量右眼串扰值信号方法
  • [发明专利]一种超导量子芯片残余验证方法-CN201910804641.5有效
  • 孔伟成;赵勇杰;朱美珍;杨夏 - 合肥本源量子计算科技有限责任公司
  • 2019-08-28 - 2022-03-18 - G01R31/3185
  • 本发明属于芯片测试领域,具体公开了一种超导量子芯片残余验证方法,包括基于测量矩阵确定补偿矩阵,其中:所述补偿矩阵和所述测量矩阵的矩阵乘积为单位矩阵;基于所述补偿矩阵和所述超导量子芯片的预设工作频率,确定所述预设工作频率对应的超导量子芯片的验证条件;基于预设直流电压偏置信号和所述验证条件对所述超导量子芯片执行操作,获得所述超导量子芯片的测量工作频率;通过所述测量工作频率和所述预设工作频率的比较判断所述超导量子芯片上是否存在残余本发明验证超导量子芯片残余为超导量子芯片的补偿提供支撑和依据。
  • 一种超导量子芯片残余验证方法

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